ダイナミック粒子画像解析システム DIA-10

【製品の概要・特長】
ダイナミック粒子画像解析システムiSpect DIA-10は、島津製作所で長年培った粉体測定技術と画像解析技術を融合し、パーティクルカウンター、粒子径分布、粒子形状解析などの機能を1台で実現しています。従来、粒子径分布測定装置や各種顕微鏡などの専用装置で測定していた「粒子画像解析」「粒子形状解析」「粒子径分布」「異物検出」「個数濃度」の測定をこの1台で測定できます。

●精度の高い個数濃度測定
●オートフォーカスで簡単ピント合わせ
●3ステップの簡単測定

【仕様】
●測定方法：動的画像解析法
●粒子径測定範囲※1 ：5 ～ 100 μm
●個数濃度再現性※2：CV≦5 %
●必要サンプル量：50 ～ 1000 μL

※1 面積円相当径の性能保証範囲。当社指定のNISTトレーサブルな粒子径標準試料の測定による。
※2 当社指定の標準試料の測定による。